spc中cpk的计算公式

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精选答案

在统计过程控制（Statistical Process Control，SPC）中，Cpk是一种常用的指标，用于评估过程的能力以满足规范要求。

Cpk表示了过程的潜在能力，考虑了过程的均值、标准差以及规范上下限。Cpk的计算公式如下：Cpk = min[(USL - μ) / (3σ), (μ - LSL) / (3σ)]其中，- USL表示规范上限（Upper Specification Limit）- LSL表示规范下限（Lower Specification Limit）- μ表示过程的平均值（Mean）- σ表示过程的标准差（Standard Deviation）Cpk的值通常介于-1和1之间。Cpk值越接近1，表示过程的能力越高，能够更好地满足规范要求。如果Cpk小于1，表示过程的能力有限，可能存在无法满足规范的风险。需要注意的是，Cpk的计算假设数据符合正态分布，并且过程处于稳定状态。如果数据不符合这些假设，或者过程不稳定，Cpk的解释和应用可能需要进一步考虑其他因素。此外，还有其他衍生指标如Ppk，它是过程的实际能力指标，考虑了过程的偏移情况。Ppk的计算与Cpk类似，但使用的是过程的样本均值与规范上下限的差异。

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小民看经济

网上看到计算CPK有两个公式.公式1：CPK=Min[| USL-ˉx | / 3σ,| ˉx -LSL | / 3σ]公式2：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)

可以这样理解：不管单边规格还是双边规格都可以直接用公式1计算用公式2的时候分单边规格和双边规格双边规格时Ca=(ˉx -U)/(T/2)Cp=T / 6σ单边规格时Ca=0只有上限和中心值时,Cp = | USL -ˉx | / 3σ 只有下限和中心值时,Cp = | ˉx -LSL | / 3σUSL:规格上限.LSL：规格下限.ˉx = (x1+x2+...+xn) / n,即平均值T = USL - LSL :规格公差.U = (USL + LSL) / 2：规格中心.σ所取样数据的标准差,用Excel的“STDEV”函数自动计算如果正确的话,用公式1和公式2计算出来的CPK值应该相等,至少是近似相等,可是为什么一个双边规格尺寸,我分别用公式Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)和公式CPK=Min[| USL-ˉx | / 3σ,| ˉx -LSL | / 3σ]算得的CPK值不一样,用前面的公式算得CPK只有0.63,用后面的公式算得的CPK有1.54

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金融中心

CPK=(1-Ca)*Cp(Cp:精度，Ca：准度)

Cp=T/(60)；T公差=规格上限(USL)-规格下限(LSL)，0=样

Ck=(N-Xbar)/(T/2)；N：规格中心，Xbar：平均值CPK=Min(USL-Xbar)/30,(Xbar-LSL)/30(常用)